X-RAY无损检测成像系统-平板探测器 安竹光
高性能的动态平板探测器，图像好、曝光时间短、成像速度快和读出速度高等特点，可以实现1x1原图30fps帧速率，
2x2 binning60fps帧速率，同时提供适用于X射线实时成像应用。
技术参数 | 规格 |
探测器类别 | 非晶硅 |
闪烁体 | CsI GOS |
图像尺寸(mm) | 160×130 |
像素矩阵 | 1274×1024 |
像素间距(um) | 125 |
A/D转换(bits) | 16 |
灵敏度(LSB/nGy, RQA5) | 1.4 |
线性剂量(uGy, RQA5). | 40 |
调制传递函数@ 0.5 LP/mm | 0.60 |
调制传递函数@ 1.0 LP/mm | 0.36 |
调制传递函数@ 2.0 LP/mm | 0.16 |
调制传递函数@ 3.0 LP/mm | 0.08 |
残影(%, 300uGy, 60s) | <0.5 |
量子探测效率@ 0.0 LP/mm (2.5uGy) | 0.73 |
量子探测效率@ 1.0 LP/mm (2.5uGy) | 0.55 |
量子探测效率@ 2.0 LP/mm (2.5uGy) | 0.45 |
量子探测效率@ 3.0 LP/mm (2.5uGy) | 0.29 |
空间分辨率(LP/mm) | 4.0 |
帧速率(fps) | 15. |
X-射线工作范围(kV) | 40/-/150 |
传输方式 | 千兆网线 |
功率(W) | 12 |
电源(V) | DC24 |
交流电源频率(Hz) | 50/-/60 |
适配器输出电压(V) | 24 DC |
探测器尺寸(mm) | 170×195×16mm |
探测器重量(kg,不含线缆) | 1.0±0.1 |
探测器外壳材料 | 碳板,铝合金 |
存储温度(ºC) | -20/-/55 |
工作温度(ºC) | 5/-/35 |
存储和运输湿度(%RH) | 10/-/75 |
工作湿度(%RH) | 10/-/75 |
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